美国OEwaves公司线宽测试系统产品及其应用

美国OEwaves公司的激光线宽/频率噪声测试仪OE4000利用零差方法进行自动测量,能够准确测试超低相位噪声激光器光源。通过方便快捷的软件界面进行操作,能够瞬间测试3Hz以下线宽的激光器,无需复杂的搭建系统。该系统利用零差测试法,测量覆盖范围大,无需额外的超窄激光器,同时系统还能够进行波长范围、本底噪声、输入功率、RIN测量等功能扩展。

美国OEwaves公司线宽测试系统产品及其应用产品特点

  • 超窄线宽/频率噪声测试
  • 快速实时测量
  • 全自动测试
  • 无需参考光源
  • 界面简单实用
  • 接受客户定制,升级

测试数据美国OEwaves公司线宽测试系统产品及其应用

偏移频率(Hz)

美国OEwaves公司线宽测试系统产品及其应用

线宽及噪声测量系统OE4000

典型应用

  • 激光器线宽测量
  • 光噪声分析

关键技术参数

参数

1530-1565nm输入

频率噪声偏差

10Hz

100Hz

1KHz

1MHz

标准噪底

250 Hz/√Hz

50 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

3 Hz/√Hz

超低噪底选项

50 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

2 Hz/√Hz

0.2 Hz/√Hz

相位噪底

-140 ± 2 dBc/Hz > 1 MHz

线宽测试范围(FWHM)

1 KHz – 10MHz (<10 ms)

光输入功率范围

5 to 15 dBm (PM-FC/APC)

偏差频率范围

10Hz – 1MHz

测量类型

零差相位/频率噪声,可选测试RIN(Noise Floor: -160 ± 2 dB/Hz > 1 MHz)

数据接口

HDD /USB

带宽分辨率

0.1 Hz – 200 kHz

操作温度范围

15° – 35° C

供电

110/120 or 220/240 Vac, 50/60 Hz

尺寸

3U x 19” Rack Mount

可配选项

低或高功率输入范围

在-10到 20 dBm范围内最多15db

客户定制输入波长

定制波段630-2200 nm,尺寸达到9U

超低噪底

FWHM线宽测试范围3Hz – 30kHz (< 10ms)

扩展补偿频率范围

相位/频率噪声最低1 Hz或者最高2GHz

RIN测试

相对强度噪声最大到40GHz,尺寸可能增加